目前国内新型干法生产线的原料配比控制均采用以实验室X-荧光分析仪为核心的质量控制系统,这种控制方案一般与生料均化库结合,才能达到干法生产的入窑生料稳定、均齐。
但是,X-荧光分析仪对试样制备的要求较复杂,从取样、缩分、压制成样再进行X-荧光分析,到分析出结果至少需要30min,也就是测定结果比 实际滞后30min,再加上磨机的纯滞后时间,因此控制周期一般定为1小时左右,因此用X-荧光分析仪就不可能真正做到在线实时控制,这样一个典型的纯长 滞后反馈控制系统,控制效果较差,使生料形成不均匀料层。
其次是试样代表性差,取样、制样过程的代表性难以保证,这是因为X-荧光分析只能测定试样表面层生料的化学成分。所以现在普遍应用的生料配料控制系统的效能还有较大的提升空间。
1、中子源252Cf发射快速中子。
2、中子与氢碰撞产生热能。
3、热中子可被吸入原子核,使核子活化。
4、核子稳定后发射特有的伽玛射线。
5、伽玛射线撞击NaI晶体探测器、时,由晶体发出一束光子。
6、通过分析从NaI晶体发出的信号,就可确定样品中元素的重量。